英語タイトル | Light Emission and Surface States Annealing on GaAs Metal Semiconductor Field-Effect Transistor |
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著者 | |
論文誌 | Japanese Journal of Applied Physics |
巻 | 37 |
号 | 2 |
ページ | pp. 455-461 |
出版年 | 1998年2月 |
概要 | ガリウム-砒素電界効果トランジスタ(GaAs MES‐FET)の表面準位の焼きなまし機構を熱キャリアによる発光特性と過渡ゲート電流を測定することにより評価する手法について述べている. |
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